高低溫試驗箱適用于電工、電子產(chǎn)品、元器件、零部件及其材料在高低溫環(huán)境下儲存、運輸和使用時(shí)的適應性試驗，以及溫度漸變試驗。還可以對電子元器件進(jìn)行應力篩選試驗。

高低溫試驗箱的“隱性故障"分析

一、電器可能存在的問(wèn)題
1、電路設計問(wèn)題不好,會(huì )導致設備跳閘
2、設備不運行,電路堵塞不通。
3、元器件質(zhì)量不過(guò)關(guān),長(cháng)期使用導致零部件故障及損壞。

二、結構存在的問(wèn)題
1、如結構設計不好,會(huì )導致設備漏電。
2、導致工作室均勻度、波動(dòng)度不穩定
三、溫度存在的問(wèn)題
1、環(huán)境溫度過(guò)高會(huì )導致低溫降不下去的現象。
2、壓縮機制冷劑減少,導致溫度不精

三、制冷機組可能存在的問(wèn)題

1.通關(guān)焊接出現縫隙

2.抽真空不*