高低溫試驗箱適用于電工、電子產(chǎn)品、元器件、零部件及其材料在高低溫環(huán)境下儲存、運輸和使用時(shí)的適應性試驗，以及溫度漸變試驗。還可以對電子元器件進(jìn)行應力篩選試驗。

    對下面溫度參數項目的定義進(jìn)行 分析，便可看出依據不同標準確認高低溫試驗箱性能結果的差異。

1.標準GB/T 5170.2的2008版本中的定義：試驗箱穩定狀態(tài)下，在規定的時(shí)間內，工作空間內任意一點(diǎn)溫度歲時(shí)間的變化量。

2.標準GB/T 10592的2008版本中的定義：穩定后，在給定的任意時(shí)間間隔內，工作空間任意一點(diǎn)的高和低溫度之差。

3.標準GB/T 2424.5的2006版本中的定義：穩定后，在規定的時(shí)間內，工作空間中任一點(diǎn)的高和低溫度之差。