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高低溫試驗箱需滿(mǎn)足的試驗標準

 更新時(shí)間:2022-02-24 點(diǎn)擊量:717

    高低溫試驗箱主要是針對于電工、電子產(chǎn)品,以及其原器件,及其它材料在高溫、低溫、溫濕度及其循環(huán)變化的環(huán)境下貯存、運輸、使用時(shí)的適應性試驗。  

滿(mǎn)足試驗標準:

  GB 10589-2008   《低溫試驗箱技術(shù)條件》

  GB 11158-2008   《高溫試驗箱技術(shù)條件》

  GB 10592-2008   《高低溫試驗箱技術(shù)條件》

  GB2423.1-2008   《電工電子產(chǎn)品基本試驗規程 試驗A:低溫試驗方法》

  GB2423.2-2008   《電工電子產(chǎn)品基本試驗規程 試驗B:高溫試驗方法》

  GB2423.4-2008   《電工電子產(chǎn)品基本試驗規程 試驗Db:交變試驗方法》

  GB2424.1-2005   《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規程 高溫低溫試驗導則》

  GB2423.22-2008  《電工電子產(chǎn)品基本試驗規程 試驗N:溫度變化試驗方法》

  GB/T5170.2-2008 《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備基本參數檢定方法 溫度試驗設備》

  GB2423.3-2008試驗C《恒定濕熱試驗方法》;

  GB2423.4-93試驗D《交變濕熱試驗方法》


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