溫度沖擊試驗箱試驗主要是針對于電子產(chǎn)品、電工，以及其原器件，及其它材料在溫度急劇變化的環(huán)境下貯存、運輸、使用時(shí)的適應性試驗。
 

 　 溫度冷熱沖擊而引起的失效現象為了保證電子產(chǎn)品具有更高的可靠性水平，隨著(zhù)產(chǎn)品耐濕性能的提高，除了相對固定式的溫度濕度試驗外，對溫度冷熱沖擊試驗的要求也越來(lái)越多，具體表現在：

1、由于產(chǎn)品精度的要求，元器件連續地受到更大的熱應力影響?！　?br style="margin: 0px; padding: 0px; outline: 0px; max-width: 100%; box-sizing: border-box !important; overflow-wrap: break-word !important;"/>2、整機的小型化使得元器件更加容易受熱。
3、可靠性要求及水平越來(lái)越高。

4、加工過(guò)程中元器件可能會(huì )受到嚴重的熱應力影響，例如：當采用焊錫焊接時(shí)。
5、隨著(zhù)便攜式電子產(chǎn)品的普及，產(chǎn)品使用環(huán)境變得更加復雜、苛刻。
6、為了減少成本，采用新材料，新工藝。 
冷熱溫度沖擊不同于普通濕熱環(huán)境，它是通過(guò)冷熱溫度沖擊來(lái)發(fā)現常溫狀態(tài)下難以發(fā)現的潛在故障問(wèn)題。決定冷熱溫度沖擊試驗的只要因素有:試驗溫度范圍、暴露時(shí)間、循環(huán)次數、試驗樣品重量及熱負荷等。